Analisis Morfologi Permukaan Lapisan Klorofil dengan Atomic Force Microscopy

Lidya Nur De Vega

Abstract


Karakteristik morfologi permukaan lapisan klorofil hasil AFM (Atomic Force Microscopy) telah dianalisis. Lapisan klorofil ditumbuhkan dengan metode spin coating pada substrat glass ITO. Hasil pengamatan morfologi
dengan AFM menjelaskan bahwa lapisan dengan N = 5 memiliki permukaan yang lebih rata dibandingkan dengan N = 3 akibat adanya proses inter molekular interaksi. Ukuran molekul penyusun lapisan klorofil membentuk
distribusi Gaussian. Hasil pengamatan kurva profil permukaan diperoleh ketebalan lapisan yang diperoleh yaitu berturut-turut sebesar 287,9 dan 372,6 nm untuk N = 3 dan 5.

Keywords


chlorophyll layer, spin coating, surface morphology, AFM

Full Text:

PDF

References


L.S. Hung, and C.H. Chen, Journal Material Science Engineering,

R39, 143-222 (2002).

S. Tiwari, and C.G. Greenham, Journal Opt. Quant. Electron, 41,

-89 (2009).

S. Boussad, A. Tazi, and R.M. Leblanc, Journal of Colloid and

Interface Science, 209, 341-346 (1999).

S. Boussad, J.A. DeRose, and R.M. Leblanc, Chemical Physics

Letter, 246, 107-113 (1995).

M. Crevecoeur, et al., Protoplasma, 212, 46-55 (2000).

P. Bombelli, et al., Phys. Chem. Chem. Phys., 12, 12221-12229

(2012).

S.-Y. Chen, et al., Carbon, 63, 23-29 (2013).

Patrascu, et al., Beilstein Journal of Nanotechnology, 5, 2316-

(2014).

I. Horcas, et al., Review of Scientific Instruments, 78, 013705

(2007).




DOI: http://dx.doi.org/10.12962/j24604682.v11i3.1069

Refbacks

  • There are currently no refbacks.


Creative Commons License
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International License.