Analisis Morfologi Permukaan Lapisan Klorofil dengan Atomic Force Microscopy
Abstract
Karakteristik morfologi permukaan lapisan klorofil hasil AFM (Atomic Force Microscopy) telah dianalisis. Lapisan klorofil ditumbuhkan dengan metode spin coating pada substrat glass ITO. Hasil pengamatan morfologi
dengan AFM menjelaskan bahwa lapisan dengan N = 5 memiliki permukaan yang lebih rata dibandingkan dengan N = 3 akibat adanya proses inter molekular interaksi. Ukuran molekul penyusun lapisan klorofil membentuk
distribusi Gaussian. Hasil pengamatan kurva profil permukaan diperoleh ketebalan lapisan yang diperoleh yaitu berturut-turut sebesar 287,9 dan 372,6 nm untuk N = 3 dan 5.
dengan AFM menjelaskan bahwa lapisan dengan N = 5 memiliki permukaan yang lebih rata dibandingkan dengan N = 3 akibat adanya proses inter molekular interaksi. Ukuran molekul penyusun lapisan klorofil membentuk
distribusi Gaussian. Hasil pengamatan kurva profil permukaan diperoleh ketebalan lapisan yang diperoleh yaitu berturut-turut sebesar 287,9 dan 372,6 nm untuk N = 3 dan 5.
Keywords
chlorophyll layer, spin coating, surface morphology, AFM
Full Text:
PDFReferences
L.S. Hung, and C.H. Chen, Journal Material Science Engineering,
R39, 143-222 (2002).
S. Tiwari, and C.G. Greenham, Journal Opt. Quant. Electron, 41,
-89 (2009).
S. Boussad, A. Tazi, and R.M. Leblanc, Journal of Colloid and
Interface Science, 209, 341-346 (1999).
S. Boussad, J.A. DeRose, and R.M. Leblanc, Chemical Physics
Letter, 246, 107-113 (1995).
M. Crevecoeur, et al., Protoplasma, 212, 46-55 (2000).
P. Bombelli, et al., Phys. Chem. Chem. Phys., 12, 12221-12229
(2012).
S.-Y. Chen, et al., Carbon, 63, 23-29 (2013).
Patrascu, et al., Beilstein Journal of Nanotechnology, 5, 2316-
(2014).
I. Horcas, et al., Review of Scientific Instruments, 78, 013705
(2007).
DOI: http://dx.doi.org/10.12962%2Fj24604682.v11i3.1069
Refbacks
- There are currently no refbacks.