Optimasi Sifat-Sifat Fisis Lapisan Tipis a-SiGe:H dengan Metoda HW-Cell-PECVD
Abstract
(Plasma Enhanced Chemical Vapor Deposition)sebagai pembanding. Dari hasil karakterisasi diperoleh bahwa
laju deposisi meningkat dari 0,31 ˙A/s sampai 1,31 ˙A/s dengan meningkatnya tekanan deposisi dari 200 sampai
500 mTorr. Celah pita optik meningkat dari 1,42 eV sampai 1,65 eV dengan meningkatnya meningkatnya tekanan deposisi dari 200 sampai 500 mTorr. Dengan sensitivitas penyinaran pada orde 105, lebih baik dari metoda PECVD yang memiliki nilai maksimal 1.33x104.
Keywords
Full Text:
PDFReferences
Takahasi, K and Konagai, M. Amorphous Silicon Solar Cell (North Oxford Academic Publisher Ltd. London, 1986)
Usman, Ida. Penumbuhan Lapisan Tipis Silikon Amorf Terhidrogenasi Dengan Teknik HWC-VHF-PECVD dan Aplikasinya Pada Divais Sel Surya, Disertasi Doktoral ITB, 2006
Street, R.A. Hydrogenated Amorphous Silikon (Cambridge University Press, Cambridge, 1991)
Amiruddin, S., Usman, I., Mursal, Winata, T. & Sukirno, Studi Optimasi Parameter Daya RF untuk Penumbuhan Lapisan Tipis Mikrokristal Silikon dengan Metode Hot Wire Cell PECVD, PROC. ITB Sains & Tek. Vol. 37 A, No. 1, (2005)
Shima, M., Isomura, M., Maruyama, E., Okamoto, S., Haku,H., Wakisaka, K., Kiyama, S. & Tsuda, Investigation of Hydrogenated Amorphous Siliocon Germanium Fabricated under High Hidrogen Dilution and Low Deposition Temperature Condition for Stable Solar Cell, Journal Applied Physics, vol.37, Japan (1998)
DOI: http://dx.doi.org/10.12962/j24604682.v5i1.931
Refbacks
- There are currently no refbacks.
This work is licensed under a Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International License.